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SZT-I型平行四刀法薄膜方阻刀形測試臺
SZT-I型平行四刀法薄膜方阻刀形測試臺
蘇州晶格電子有限公司自主研發生產SZT-I型平行四刀法測試臺,薄膜方阻刀形測試臺四探針測試儀,方阻測試儀
產品類別: SZT-I 平行四刀法 電容器薄膜方塊電阻測試儀專用測試架
上架時間: 2013/5/1 21:47:19
瀏覽次數: 11058
產品詳細
一 、功能與結構特征概述

薄膜方阻刀形測試臺

                      SZT-I型平行四刀法方阻測試臺
      基本功能:SZT-I 型平行四刀法薄膜方阻刀形測試臺,有四個平行刀型測試電極,配以四探針儀器,用以測試柔性半導體薄膜或金屬涂層薄膜方阻。
      基本組成:成套測試臺有四個平行刀型測試電極、測試臺架、儀器連接線纜等部件組成。
      配套與兼容本測試臺兼容本公司所有四探針儀器,如下表主要型號,也可兼容其他大部分廠家四探針儀器。
           ST2558A-F02 型薄膜方阻刀形測試臺適用產品部分型號及名稱列表
序號
型號
名稱
備注
1
ST2558A
多功能數字式方阻測試儀
柔性薄膜方阻測試專用
2
ST2558B
多功能數字式方阻測試儀
柔性薄膜方阻測試專用
3
ST2258A
多功能數字式方阻測試儀
柔性薄膜方阻測試專用
4
ST2258B
多功能數字式方阻測試儀
柔性薄膜方阻測試專用
5
ST2253
數字式四探針測試儀
柔性薄膜方阻測試專用
二、主要技術參數及說明
    1柔性薄膜方阻測試專用
    2可測尺寸寬5~100mm,電壓刀距100mm,電流刀距130mm。
    3磷銅探刀,接觸良好可靠
    4 探刀為可快捷拆換型,方便生產線頻繁使用
    5 本公司可為顧客長期代購探針配件,價格優惠,服務周到
三、使用方式,請參照各配套測試臺使用方式。
四、聯系方式:18914021918/0512-80973697  QQ:1064887318 丁先生
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